男，1933年7月10日生，湖南岳阳人。1958年华中师范大学物理系毕业，湖南省技术物理研究所副研究员、湖南省核学会常务理事。

从事核技术应用研究工作。在核辐射探测技术及射线测厚仪研制方面有较深研究。其中，1968年在中科院上海原子核研究所主持研制的"半导体快中子谱仪"，为实验用单色中子源的研究，提供了重要的测试手段。在湖南省技术物理研究所工作期间，1980年主持研制的"RTG－－2型β射线测厚仪"，获1986湖南省科委科技进步四等奖。1987年主持研制的"RTW--88型同位素X荧光镀层测厚仪"，先后获1990年湖南省科委科技进步一等奖和199年湖南省科技进步四等奖。1985年主持的软科学课题"湖南省核技术工业应用前景预测"，获1986年湖南省科委科技进步三等奖。发表论文10余篇，其中在全国性学术期刊《核技术》、《金属制品》等杂志上发表的论文，主要有《半导体快中子谱仪》、《自补偿β射线测厚探头的研制》、《能量色散X荧光钢丝镀层测厚仪》等。专利成果有"同位素X荧光镀层测厚仪"。待开发的技术项目有"微机宽量程射线测厚仪"。